透射电镜和扫描电镜
透射电镜(TEM)利用电子束作光源，用电磁场作透镜，经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，形成明暗不同的影像，TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法，如基础医学研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，分辨力可达0.2nm，200-200k倍之间连续可调; 可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列分子的结构。
扫描电镜(SEM)利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜对二次电子、背散射电子的采集，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，可得到有关物质微观形貌的信息。扫描电镜有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调;有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单，不含水的样本可以不用固定。
实验流程
包埋-制片-拍照